專為IC半導體產業設計
適用于不同類型的IC半導體檢測
Mini LED 芯片檢測 IGBT元件
缺陷檢測
采用自主研發的碳納米管X光管
高光子效率碳納米管
一體化X射線源
支持多角度2.5D檢測 可升級為3D
可提供定制化軟件功能
一鍵獲取高分辨率的圖像
最優分辨率可達到2.5μm
輕松勝任各種物體尺寸
和缺陷檢測 廣泛應用于
新產品研發及質量抽檢、失效分析
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采用自主研發的碳納米管X光管以及高分辨率平板探測器, 能夠快速獲取優質的二維檢測圖像。最優分辨率可達到2.5μm 輕松勝任各種IC半導體的尺寸和缺陷檢測需求。廣泛應用于新產品 研發及質量抽檢、失效分析。了解更多




適用于不同類型的IC半導體檢測
Mini LED 芯片檢測 IGBT元件
缺陷檢測
高光子效率碳納米管
一體化X射線源
支持多角度2.5D檢測 可升級為3D
可提供定制化軟件功能
最優分辨率可達到2.5μm
輕松勝任各種物體尺寸
和缺陷檢測 廣泛應用于
新產品研發及質量抽檢、失效分析
| 系統參數 | 灰度等級 | 14/16bits |
|
| 系統分辨率 | 2.5μm |
|
|
| 標準外形尺寸 | 1454x1360x1785mm |
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| 整體重量 | 1000kg |
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| 載物臺尺寸 | 510x440mm |
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| 最大傾斜角度 | 60° |
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| X射線源 | 工作電壓 | 90~150KV |
|
| 工作電流 | 10~150μA |
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| 焦點尺寸 | 3~15μm |
可選 |
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| 光管類型 | 閉管 |
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| 探測器 | 探測器類型 | 數字平板探測器 |
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| 像素尺寸 | 49.5μm | 可選配更高級別 | |
| 像素數量 | 1300x1152 | 可選配更高級別 | |
| 成像面積 | 64x57mm | 可選配更高級別 |
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